本發(fā)明公開(kāi)了一種基于跨孔雷達(dá)和深度學(xué)習(xí)的地下結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷識(shí)別方法,包括:建立數(shù)值模擬數(shù)據(jù)集,所述數(shù)值模擬數(shù)據(jù)集包括若干組二維跨孔雷達(dá)時(shí)域波形圖與模型剖面介電常數(shù)分布圖的數(shù)據(jù)對(duì);以所述數(shù)值模擬數(shù)據(jù)集作為學(xué)習(xí)樣本,訓(xùn)練基于深度學(xué)習(xí)的缺陷識(shí)別模型;使用所述基于深度學(xué)習(xí)的缺陷識(shí)別模型對(duì)實(shí)時(shí)采集的跨孔雷達(dá)數(shù)據(jù)進(jìn)行反演,進(jìn)而得到對(duì)應(yīng)的缺陷介電常數(shù)分布預(yù)測(cè)圖像。本發(fā)明提出的方法可以應(yīng)用于使用跨孔雷達(dá)探測(cè)地下連續(xù)墻、樁基礎(chǔ)、工程地質(zhì)勘察等實(shí)際工程場(chǎng)景,實(shí)現(xiàn)對(duì)地下結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷的準(zhǔn)確、高分辨率和快速識(shí)別。
聲明:
“基于跨孔雷達(dá)和深度學(xué)習(xí)的地下結(jié)構(gòu)內(nèi)部缺陷識(shí)別方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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