本發(fā)明涉及一種離子型
稀土礦浸礦盲區(qū)探測方法及系統(tǒng),方法包括:將電阻率儀的多條測試線沿山脊走向布置,利用多條測試線對礦體進(jìn)行探測,得到每條所述測試線探測的視電阻率數(shù)據(jù);各所述測試線均包括多個電極,每條所述測試線上的相鄰兩個所述電極的間距按照山體的不同地形特征設(shè)置;所述礦體在所述山體內(nèi)部;對所述視電阻率數(shù)據(jù)進(jìn)行反演,得到每條所述測試線的視電阻率剖面圖;將所述視電阻率剖面圖中大于設(shè)定閾值的電阻率對應(yīng)的礦體區(qū)域確定為高阻異常區(qū);所述高阻異常區(qū)為浸礦盲區(qū)的位置。本發(fā)明主要通過高密度電阻率儀探測技術(shù),對浸礦的礦體進(jìn)行測線定點(diǎn)、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)反演,從而得到探測的浸礦盲區(qū)的位置,實(shí)現(xiàn)了浸礦盲區(qū)的精準(zhǔn)定位。
聲明:
“離子型稀土礦浸礦盲區(qū)探測方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)