本發(fā)明公開了一種基于色差識別的巖石微觀結(jié)構(gòu)射線成像探測法,它包括利用X?射線獲取巖石微觀結(jié)構(gòu);采用矩陣單元色差識別分割算法,通過色差分塊矩陣邊界單元色差計算巖石內(nèi)部各微觀結(jié)構(gòu)相色差識別閾值,并結(jié)合灰階識別閾值,最終獲得巖石微觀結(jié)構(gòu)相最優(yōu)分割閾值;完成巖石內(nèi)部裂紋、孔隙和固體基質(zhì)等多類微觀結(jié)構(gòu)相的精確分割。它可以提高巖石內(nèi)部各類微觀結(jié)構(gòu)相的分割精度,提高預(yù)測巖石物理力學參數(shù)預(yù)測精度,從而應(yīng)用于深部巖石工程地質(zhì)災(zāi)害和深部能源開發(fā)工程。本發(fā)明的優(yōu)點是:精確識別區(qū)分巖石裂紋和孔隙及其他固體基質(zhì)結(jié)構(gòu)相,提高巖石微觀結(jié)構(gòu)識別分割精度,提高預(yù)測巖石物理力學參數(shù)預(yù)測精度。
聲明:
“基于色差識別的巖石微觀結(jié)構(gòu)射線成像探測法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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