本發(fā)明公開了一種不同深度地質(zhì)各向異性的環(huán)形探測方法,該方法具體包括:觀測點的設(shè)計:在一個環(huán)形圓周上設(shè)置多個電極或電極對;在同一時刻對各點電位進行測試,通過探測不同深度地電的各向異性來快速判斷不同深度地質(zhì)的各向異性,該方法可用于探測同一測點上不同深度的地質(zhì)構(gòu)造、巖(礦)石電性的各向異性的特征進而獲得地質(zhì)結(jié)構(gòu)的各向異性特征;探測深度可從幾米到數(shù)千米;同時克服了探測時天然電場隨時間變化的影響,實現(xiàn)了探測結(jié)果之間的精細對比,提高了探測質(zhì)量和精度。
聲明:
“不同深度地質(zhì)各向異性的環(huán)形探測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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