本發(fā)明公開了一種剩余靜校正方法,包括:在基于標(biāo)準(zhǔn)層質(zhì)量控制的高程靜校正后的疊加剖面中選擇標(biāo)志層;依據(jù)工區(qū)內(nèi)現(xiàn)有地質(zhì)和物探資料修正標(biāo)志層;對(duì)修正后的疊加數(shù)據(jù)進(jìn)行去噪處理,得到用于剩余靜校正的外部模型;基于所述剩余靜校正外部模型采用多次迭代的方式求取地表一致性剩余靜校正的靜校正量。本發(fā)明充分利用疊加數(shù)據(jù)中高信噪比的數(shù)據(jù),結(jié)合現(xiàn)有地質(zhì)和物探資料修正疊加數(shù)據(jù)中低信噪比的數(shù)據(jù),從而使剩余靜校正的處理更加有效,得到的靜校正量更加精確。
聲明:
“剩余靜校正方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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