本發(fā)明公開的后置分光瞳激光差動(dòng)共焦質(zhì)譜顯微成像方法與裝置,屬于共焦顯微成像及質(zhì)譜成像測量技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明將后置分光瞳激光差動(dòng)共焦顯微成像技術(shù)與質(zhì)譜探測技術(shù)結(jié)合,利用質(zhì)譜探測系統(tǒng)對樣品微區(qū)帶電分子、原子等進(jìn)行質(zhì)譜探測,利用激光質(zhì)譜探測和后置分光瞳差動(dòng)共焦探測結(jié)構(gòu)融合實(shí)現(xiàn)樣品微區(qū)組分信息與形態(tài)參數(shù)的高空間分辨和高靈敏成像與探測。本發(fā)明可為生物醫(yī)學(xué)、材料科學(xué)、礦產(chǎn)、微納制造等領(lǐng)域形態(tài)成像及物質(zhì)組分探測提供一條全新的有效技術(shù)途徑。
聲明:
“后置分光瞳激光差動(dòng)共焦質(zhì)譜顯微成像方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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