本發(fā)明屬于地質樣品分析技術領域,公開了一種基于能量色散X射線熒光光譜法測定礦石中的金的方法,光譜儀采用三維幾何結構光路,使用Sc/W靶材;配置15個二次靶;樣品粉碎至74μm(200目),在烘箱中烘干,稱取樣品放于特制模具中,用聚乙烯粉末鑲邊墊底,加壓,制成試樣,放入干燥器中待測;采用樣品為金礦石標準物質中,梯度適當?shù)男蕵悠废盗兄瞥山鹪睾康那€。本發(fā)明采用實驗樣品為金礦石標準物質中,選擇國家一級金礦石標準物質與部分含金的標準物質制成金元素含量的曲線,譜線重疊和基體效應校正,金的校準曲線及其線性,方法的檢出限,方法的精密度,方法的準確度。
聲明:
“基于能量色散X射線熒光光譜法測定礦石中的金的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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