本發(fā)明公開了一種用于TEM分析的地質(zhì)薄片樣品的制備方法,包括以下步驟:準(zhǔn)備薄片;選取分析區(qū);固定薄片;鉆取分析區(qū);獲取離子減薄的薄片樣品和離子減薄處理。常規(guī)的用于TEM分析的地質(zhì)薄片用玻璃切割刀進(jìn)行分割,不僅影響地質(zhì)薄片其他區(qū)域的再次利用,而且因礦物巖石之間硬度差別較大,TEM樣品制備的成功率較低,本發(fā)明首次以鉆取的方式制備選定的樣品區(qū)域,提高了地質(zhì)薄片的TEM樣品制備的成功率。
聲明:
“用于TEM分析的地質(zhì)薄片樣品的制備方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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