本發(fā)明涉及一種基于徑向基網(wǎng)絡算法獲取集成電路成品率的方法,屬于集成電路技術領域,該方法包括:根據(jù)集成電路工藝廠商提供的工藝參數(shù),采用徑向基網(wǎng)絡算法,建立一個替代電路仿真的替代模型,將工藝參數(shù)作為替代模型的自變量,電路性能指標作為替代模型的函數(shù)值;根據(jù)最小范數(shù)方法,獲取最易使集成電路失效的工藝浮動值;得到的替代模型和最易失效的工藝浮動值,進行統(tǒng)計采樣,獲取采樣點和電路性能指標;根據(jù)所述采樣點及其電路性能指標,通過統(tǒng)計學方法得到該集成電路的成品率。該方法可降低成品率獲取過程中的電路仿真次數(shù),減少分析集成電路成品率所用的時間,縮短集成電路設計周期,加快集成電路生產,降低集成電路的成本,提高經濟價值。
聲明:
“基于徑向基網(wǎng)絡算法獲取集成電路成品率的方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)