本發(fā)明公開(kāi)了一種模擬太陽(yáng)風(fēng)轟擊宇航級(jí)芯片的等離子體輻照平臺(tái)，該平臺(tái)為用來(lái)模擬太陽(yáng)風(fēng)高速等離子體粒子流轟擊宇航級(jí)電子學(xué)芯片致使其致盲的輻照平臺(tái)，具體涉及脈沖等離子體源以及芯片輻照檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，包括有輻照主機(jī)系統(tǒng)，多脈沖高壓、大電流電源，電源控制器，真空腔室，真空泵組，高速脈沖進(jìn)氣閥，載物臺(tái)以及芯片失效實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)系統(tǒng)。本發(fā)明可以用來(lái)模擬空間多脈沖高速等離子輻照宇航級(jí)芯片后對(duì)芯片失效的影響，本發(fā)明所設(shè)計(jì)的等離子體源產(chǎn)生的目標(biāo)等離子體和空間環(huán)境下的太陽(yáng)風(fēng)等離子體參數(shù)接近，是一種用來(lái)模擬該效應(yīng)對(duì)宇航級(jí)電子學(xué)芯片致盲效應(yīng)的有效手段。