本發(fā)明公開了使用實際的半導(dǎo)體裝置能高速且可靠地檢測出關(guān)鍵路徑的關(guān)鍵路徑探索方法和探索系統(tǒng)。將預(yù)定的數(shù)據(jù)輸入到半導(dǎo)體裝置中之后到輸出與其對應(yīng)的數(shù)據(jù)為止的工作時鐘數(shù)目定為n,按順序?qū)⒃搉個工作時鐘的每一個的周期從失效周期變更為通過周期,進行關(guān)鍵路徑的探索。
聲明:
“關(guān)鍵路徑探索方法和探索系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)