本申請(qǐng)公開(kāi)了一種集成
芯片的控制方法,其中,集成芯片中設(shè)置有模擬控制電路,該方法包括:對(duì)集成芯片進(jìn)行檢測(cè);當(dāng)集成芯片失效時(shí),則利用模擬控制電路對(duì)集成芯片中的模擬電路模塊進(jìn)行控制。顯然,通過(guò)這樣的設(shè)置方式不僅能夠避免集成芯片中的模擬電路模塊由于集成芯片失效而出現(xiàn)的不可控現(xiàn)象,而且,也可以推測(cè)出集成芯片產(chǎn)生失效的原因,此時(shí)通過(guò)對(duì)導(dǎo)致集成芯片發(fā)生失效的信號(hào)進(jìn)行控制,就可以保證集成芯片的正常運(yùn)行。相應(yīng)的,本申請(qǐng)所提供的一種集成芯片的控制裝置、設(shè)備及介質(zhì),同樣具有上述有益效果。
聲明:
“集成芯片的控制方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專(zhuān)利(論文)的發(fā)明人(作者)