本發(fā)明公開(kāi)了一種利用圖案化電荷標(biāo)記研究聚合物弛豫現(xiàn)象的方法。該方法包括如下步驟:1)利用PDMS印章對(duì)聚合物薄膜進(jìn)行圖案化注電,在所述聚合物薄膜的表面構(gòu)筑出電荷圖案;所述PDMS印章為表面具有微納米圖案結(jié)構(gòu)的PDMS模板;所述PDMS印章的上表面和下表面均鍍有金屬;2)研究所述聚合物薄膜在溫度刺激或溶劑刺激條件下的弛豫現(xiàn)象。發(fā)明提供的圖案化電荷標(biāo)記研究聚合物弛豫的方法,以圖案化的靜電荷能夠在微尺度下作為一種標(biāo)記,實(shí)時(shí)觀察、定量測(cè)量注電區(qū)域和非注電區(qū)域在弛豫過(guò)程中相關(guān)參量的對(duì)比和反差,提供了一條更直觀的觀察介電弛豫差異的方法,為聚合物作為工程材料在電場(chǎng)作用下的老化、失效分析提供實(shí)驗(yàn)基礎(chǔ)和理論依據(jù)。
聲明:
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