本發(fā)明涉及一種激光輻照效應(yīng)損傷閾值分析方法,具體涉及一種陣列式圖像傳感器激光損傷閾值估算方法,解決激光干擾損傷效應(yīng)閾值實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)存在較大差異的問題。該方法通過獲取陣列式圖像傳感器樣品上不同程度的點(diǎn)損傷效應(yīng)、線損傷與大面積失效激光參數(shù),以及失效閾值,計算得出線損傷閾值、大面積失效閾值,再以點(diǎn)損傷閾值為基準(zhǔn)閾值,計算出線損傷、大面積失效以及失效的相關(guān)參數(shù),最后通過多次實(shí)驗(yàn)得到線損傷、大面積失效和失效的相關(guān)系數(shù)區(qū)間。根據(jù)此參數(shù)區(qū)間和未知器件或相似器件的點(diǎn)損傷閾值,就可得到未知器件或相似器件的線損傷、大面積失效和失效的系數(shù)區(qū)間。消除測量不確定度、效應(yīng)現(xiàn)象隨機(jī)性、樣品個體差異的實(shí)驗(yàn)誤差,提高準(zhǔn)確度。
聲明:
“陣列式圖像傳感器激光損傷閾值估算方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)