本發(fā)明公開了一種對探針卡在測試過程中防止燒針的方法,每當(dāng)探針卡移動到一個或一組新的被測
芯片上時,連接在所有被測芯片上的所有測試通道,包括電源電壓均設(shè)定為低電平,并且打開電源上的去耦電容開關(guān),使之前累積在所有測試通道上的電荷泄放;當(dāng)一個或一組新的被測芯片在測試程序的某個測試項目上發(fā)生了失效時,需要馬上將其踢除,亦即所有的測試通道均下電。本發(fā)明能提高探針卡的使用壽命。
聲明:
“對探針卡在測試過程中防止燒針的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)