一種測試被測試存儲器的測試裝置,該被測試存儲器具有復(fù)數(shù)塊和修復(fù)用列;該測試裝置具有:測試部;標(biāo)志存儲器,其存儲表示各列是否良好的標(biāo)志;計數(shù)存儲器,其存儲各列的不良塊數(shù);失效寫入部,其以至少滿足測試結(jié)果為不良,以及對應(yīng)的列的標(biāo)志存儲器內(nèi)的標(biāo)志顯示不良中的某一方為條件,將顯示不良的標(biāo)志寫入標(biāo)志存儲器;計數(shù)部,其以測試結(jié)果為不良,且對于對應(yīng)的列,標(biāo)志存儲器內(nèi)未存儲顯示不良的標(biāo)志為條件,累加對應(yīng)的列的計數(shù)存儲器的塊數(shù)量;選擇部,其根據(jù)各列的不良塊數(shù),選擇應(yīng)置換為修復(fù)用列的列。
聲明:
“測試裝置以及選擇裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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