本發(fā)明提供一種FPGA輻射測試模塊、ASIC
芯片抗輻射性能評估系統(tǒng)及方法,包括:時(shí)鐘復(fù)位生成單元,產(chǎn)生系統(tǒng)時(shí)鐘及復(fù)位信號(hào);輸入激勵(lì)生成單元,產(chǎn)生測試用激勵(lì);被測軟ASIC單元;采集對比表決與測試流程控制單元,采集各被測軟ASIC單元及外部被測ASIC芯片的狀態(tài)值,并對比判定得到判定結(jié)果;監(jiān)控接口單元,將狀態(tài)值及判定結(jié)果匯總后發(fā)送出去;通信接口模塊,傳輸正常工作狀態(tài)時(shí)的通訊數(shù)據(jù)。本發(fā)明性能高、容量大、速度快、靈活性高,如有失效事件發(fā)生,該系統(tǒng)還具有精確判定失效事件發(fā)生時(shí)刻,被測ASIC時(shí)序、內(nèi)部狀態(tài)及大致的內(nèi)部路徑位置的能力。
聲明:
“FPGA輻射測試模塊、ASIC芯片抗輻射性能評估系統(tǒng)及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)