一種測(cè)試半導(dǎo)體電路的方法,半導(dǎo)體電路包括連接到存儲(chǔ)器件的字線(xiàn)、接收地址的地址接受器、譯碼地址并選擇一個(gè)字線(xiàn)的地址譯碼器、在非測(cè)試模式和測(cè)試模式期間刷新字線(xiàn)的自刷新單元,在測(cè)試模式中器件控制半導(dǎo)體電路,方法包括將測(cè)試模式信號(hào)提供到測(cè)試模式器件,激活自刷新單元的測(cè)試模式操作,使用自刷新單元順次地激活字線(xiàn),將字線(xiàn)保持在激活狀態(tài)中一預(yù)定時(shí)間周期并使字線(xiàn)失效。
聲明:
“自刷新的DRAM的DC老化的字線(xiàn)激活的定時(shí)” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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