本發(fā)明公開了一種基于退化曲線相似度的射頻電路健康度預測方法，先根據(jù)預定的退化參數(shù)確定測量的信號參數(shù)，然后訓練得到各個信號參數(shù)對應的失效臨界態(tài)的隱馬爾可夫模型，將實際測量的各信號參數(shù)幅值輸入失效臨界態(tài)隱馬爾可夫模型，計算得到實際數(shù)據(jù)對應狀態(tài)相對于失效臨界態(tài)的KL值，得到退化參數(shù)的KL值曲線K1，然后擬合得到擬合曲線K2，通過理想退化仿真得到理想退化數(shù)據(jù)KL值的理想曲線K3，根據(jù)到理想曲線K3的歐式距離計算曲線K1和曲線K2的相似度，計算參照KL值F0，最后根據(jù)擬合曲線K2計算得到預測時刻的KL值F1，得到健康度，然后根據(jù)相似度得到預測時刻的最終預測健康度。經過實驗驗證可知，本發(fā)明可以實現(xiàn)電子產品健康度的準確預測。
聲明：
“基于退化曲線相似度的電子產品健康度預測方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網
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2025年03月21日 ~ 23日 
