本發(fā)明公開了一種實現(xiàn)冗余功能存儲器
芯片測試的方法,其把存儲器芯片主區(qū)域測試向量按最小冗余單元進行分割,做成子測試向量組;針對每個測試項目分別運行子測試向量組,讀出子測試向量組的每個向量的測試結(jié)果;把失效向量的序號換算成失效單元地址存放在內(nèi)存變量中,不同測試項目的子測試向量組測試出的失效單元地址存放在不同的內(nèi)存變量中,并累積計算每個測試項目的失效單元個數(shù)及地址;根據(jù)每個測試項目的失效單元個數(shù)及地址,統(tǒng)計得出存儲器芯片主區(qū)域失效單元數(shù)的總和以及失效地址。本發(fā)明的實現(xiàn)冗余功能存儲器芯片測試的方法,可以利用自帶數(shù)字向量發(fā)生器的數(shù)字測試機實現(xiàn)和存儲器測試機相同的冗余功能存儲器芯片測試,降低測試成本。
聲明:
“實現(xiàn)冗余功能存儲器芯片測試的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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