本發(fā)明公開了一種OTP型MCU在未預(yù)留測試接口情況下的量產(chǎn)測試方法,該方法在CP1階段中,在程序區(qū)模擬一個測試接口,與量產(chǎn)ATE設(shè)備進(jìn)行通信;同時,在CP1、CP2階段將校準(zhǔn)區(qū)的有用信息存儲下來到公共網(wǎng)絡(luò)端,在UV之后的CP3階段,再將對應(yīng)的公共網(wǎng)絡(luò)端的有用信息寫入到OTP存儲區(qū)。本發(fā)明通過模擬測試接口實(shí)現(xiàn)對待測模塊的訪問,并與ATE設(shè)備進(jìn)行通信,解決了OTP型MCU因沒有測試接口導(dǎo)致無法量產(chǎn)測試的問題,解決OTP型MCU在某個測試接口失效導(dǎo)致無法測試的問題。
聲明:
“OTP型MCU在未預(yù)留測試接口情況下的量產(chǎn)測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)