本發(fā)明涉及一種超級電容
儲能系統(tǒng)不同連接方式可靠性預測的方法,包括以下步驟:S1:在不影響結(jié)果分析前提下,提出以下假設(shè):(a)初始時系統(tǒng)中各單體間連接處于正常狀態(tài);(b)系統(tǒng)在同一時刻最多只存在一處故障點;(c)系統(tǒng)內(nèi)各單體間連接相互獨立,且失效率相等;(d)系統(tǒng)只考慮各單體內(nèi)部及單體間連接故障;S2:為方便討論,引入失效率函數(shù)r(t);S3:利用指數(shù)分布函數(shù)來刻畫;本發(fā)明首先針對兩種典型連接方式進行可靠度數(shù)學分析,再根據(jù)得到的可靠度分析圖譜來明確不同連接方式可靠度與時間及串并聯(lián)數(shù)量之間的關(guān)系,進而用于指導整個超級電容儲能系統(tǒng)的設(shè)計與研發(fā)工作,從而有效提高整個儲能系統(tǒng)的能量利用率及可靠度。
聲明:
“超級電容儲能系統(tǒng)不同連接方式可靠性預測的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)