本發(fā)明涉及一種用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試系統(tǒng)及方法，其中系統(tǒng)包括主控電路，所述的主控電路包括功能測(cè)試模塊，所述的功能測(cè)試模塊用以對(duì)鼠標(biāo)電路在測(cè)試模式下進(jìn)行功能測(cè)試，并區(qū)分測(cè)試成功的鼠標(biāo)電路和測(cè)試失敗的鼠標(biāo)電路，所述的功能測(cè)試包括外打指令測(cè)試、外部按鍵測(cè)試、USB功能測(cè)試、RAM測(cè)試、ROM測(cè)試、DSP測(cè)試和PD測(cè)試中的至少一種。采用該種結(jié)構(gòu)的用于鼠標(biāo)電路的功能測(cè)試系統(tǒng)及方法，對(duì)成品電路進(jìn)行測(cè)試，使得封裝等后續(xù)環(huán)節(jié)中導(dǎo)致失效的電路能夠分離出來，從而減少產(chǎn)品電路的客戶失效反饋；本發(fā)明對(duì)分離出來的各功能模塊失效電路再次進(jìn)行分離，并結(jié)合上位機(jī)實(shí)時(shí)觀察通信數(shù)據(jù)，便于設(shè)計(jì)人員對(duì)電路的分析調(diào)試，大大節(jié)省了研發(fā)時(shí)間和研發(fā)成本。