本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N光耦繼電器壽命的檢測(cè)方法、裝置、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì),其中,光耦繼電器壽命的檢測(cè)方法包括步驟:確定待測(cè)光耦繼電器的初始參數(shù);在一定的溫度和濕度條件下對(duì)待測(cè)光耦繼電器進(jìn)行加電偏置試驗(yàn),過(guò)程參數(shù)并在試驗(yàn)過(guò)程中監(jiān)測(cè)光耦繼電器開啟電壓的退化情況;測(cè)試待測(cè)光耦繼電器在加電偏置結(jié)束時(shí)的開啟電壓,并作為試驗(yàn)后的參數(shù);根據(jù)初始參數(shù)、過(guò)程參數(shù)和試驗(yàn)后的參數(shù)構(gòu)建退化模型;根據(jù)退化模型、初始參數(shù)計(jì)算待測(cè)光耦繼電器退化至失效所需的時(shí)間。本申請(qǐng)能夠?qū)崿F(xiàn)便于檢測(cè)光耦繼電器壽命。
聲明:
“光耦繼電器壽命的檢測(cè)方法、裝置、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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