本發(fā)明公開了一種存儲單元的故障定位分析方法、裝置、存儲介質(zhì)和終端,通過使用Magnum II測試系統(tǒng)的錯誤捕獲內(nèi)存和算法生成器代替?zhèn)鹘y(tǒng)的燒錄器和chroma測試機,用錯誤捕獲內(nèi)存記錄失效地址的行和列,然后用算法生成器產(chǎn)生pattern去做分析;本技術(shù)方案不但能定位失效的存儲單元,還能對存儲單元進(jìn)行故障原因分析;可通過算法生成器自動產(chǎn)生pattern做分析,通用性好。
聲明:
“存儲單元的故障定位分析方法、裝置、存儲介質(zhì)和終端” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)