當(dāng)今生產(chǎn)過程中的成品率突發(fā)異常需要昂貴、冗長(zhǎng)且繁重的物理失效分析過程方可確定其根本原因。本申請(qǐng)中公開了通過對(duì)收集自生產(chǎn)測(cè)試環(huán)境的失效數(shù)據(jù)的分析,高效率地確定生產(chǎn)成品率突發(fā)異常根本原因的技術(shù)。具體而言,將以新的方式使用統(tǒng)計(jì)假設(shè)檢驗(yàn)來分析邏輯診斷數(shù)據(jù)以及關(guān)于設(shè)計(jì)布局的物理特性的信息,并可靠地確定成品率突發(fā)異常的原因。
聲明:
“通過對(duì)掃描診斷結(jié)果的統(tǒng)計(jì)學(xué)分析確定成品率突發(fā)異常的原因” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)