本發(fā)明公開(kāi)了一種基于相關(guān)性回歸分析的衛(wèi)星
太陽(yáng)能電池陣故障數(shù)據(jù)提取方法,屬于衛(wèi)星太陽(yáng)能電池陣的失效分析技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明首先對(duì)觀測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,然后計(jì)算相鄰兩天觀測(cè)數(shù)據(jù)的一階差分,對(duì)預(yù)處理后的觀測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行填補(bǔ),確定填補(bǔ)后的觀測(cè)數(shù)據(jù)的去均值化的觀測(cè)數(shù)據(jù)的一階差分;以性能衰減模型擬合最優(yōu)為目標(biāo)尋找突變點(diǎn)判斷閾值,得到觀測(cè)數(shù)據(jù)中的突變點(diǎn);最后針對(duì)所尋找出的突變點(diǎn)觀察原始觀測(cè)數(shù)據(jù),對(duì)其是否發(fā)生真實(shí)失效進(jìn)行判斷,實(shí)現(xiàn)對(duì)衛(wèi)星太陽(yáng)能電池陣故障數(shù)據(jù)提取。本發(fā)明充分利用了遙測(cè)觀測(cè)數(shù)據(jù),有較高的失效點(diǎn)的檢測(cè)率和較低的誤報(bào)率;與現(xiàn)有的故障信息提取方法相比,本發(fā)明方法顯著提高了故障數(shù)據(jù)提取的通用性和準(zhǔn)確度。
聲明:
“基于相關(guān)性回歸分析的衛(wèi)星太陽(yáng)能電池陣故障數(shù)據(jù)提取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)