本發(fā)明提供了一種獲取非揮發(fā)存儲器中失效二進(jìn)制位分布信息的方法,對非揮發(fā)存儲器的模塊進(jìn)行測試,確定失效的模塊,并得到失效模塊的失效類型與相應(yīng)的失效地址信息;提供一個測試命令集,分別采用測試命令集內(nèi)的每一個測試命令,對失效類型與該測試命令相對應(yīng)的失效模塊中的二進(jìn)制位進(jìn)行測試,確定失效二進(jìn)制位的地址和失效類型。本發(fā)明還提供了一種獲取非揮發(fā)存儲器中失效二進(jìn)制位地址分布信息的裝置。本發(fā)明提供的技術(shù)方案可以節(jié)約測試時間,降低測試對器件的損傷。
聲明:
“獲取非揮發(fā)存儲器中失效二進(jìn)制位分布信息的方法與裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)