一種判斷失效率與選擇最佳預(yù)處理周期的方法, 至少包括 : 提供數(shù)個(gè)集成電路; 根據(jù)測(cè)試環(huán)境下各集成電路的有 效工作期限建立失效率一測(cè)試時(shí)間關(guān)系, 并建立加速因子函數(shù), 它為測(cè)試環(huán)境的測(cè)試時(shí)間與正常工作環(huán)境的真實(shí)時(shí)間的關(guān)系 使用以測(cè)試時(shí)間或真實(shí)時(shí)間為變數(shù)的函數(shù)模擬失效率一時(shí)間 關(guān)系, 此測(cè)試時(shí)間與真實(shí)時(shí)間的轉(zhuǎn)換使用加速因子函數(shù), 且函數(shù) 的轉(zhuǎn)折點(diǎn)即為最佳預(yù)處理周期; 對(duì)真實(shí)時(shí)間大於最佳預(yù)處理周 期的部份進(jìn)行函數(shù)的積分計(jì)算, 以得到累積失效率一真實(shí)時(shí)間 函數(shù)。當(dāng)函數(shù)轉(zhuǎn)折點(diǎn)所對(duì)應(yīng)的特定測(cè)試時(shí)間前已有不只一個(gè)集 成電路失效時(shí), 可消除部份測(cè)量資料并重新找尋特定測(cè)試時(shí)間, 直到在特定測(cè)試時(shí)間前只有一個(gè)集成電路失效為止。