本發(fā)明涉及一種
芯片失效定位方法,其步驟如下:首先,確定失效的電性測(cè)試項(xiàng)目;其次,在MCU中編輯相應(yīng)的代碼;最后,通過(guò)MCU發(fā)送相應(yīng)的信號(hào)模式至待分析的芯片。本發(fā)明所述芯片失效定位的方法,不但簡(jiǎn)單,而且速度更快,用戶操作時(shí)的準(zhǔn)確度和速度都大大提高,由于利用MCU作為信號(hào)發(fā)生器,所以可以發(fā)送任意所需信號(hào),模擬芯片工作時(shí)的各個(gè)狀態(tài),從而可以測(cè)試分析芯片的任意失效項(xiàng)目。
聲明:
“芯片失效定位的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)