本發(fā)明涉及一種儀器內(nèi)部電磁干擾失效的診斷方法,其包括以下步驟:用計算機(jī)虛擬一臺正常工作的儀器并建立其內(nèi)部電磁干擾失效的仿真模型,觀察受干擾前后儀器內(nèi)部各項參數(shù)的變化情況,確定能
檢測儀器失效的關(guān)鍵參數(shù);在屏蔽環(huán)境中建立儀器內(nèi)部電磁干擾失效模型,分析近場探頭采集的參數(shù)信息,判斷儀器的失效程度;采用融合小波變換和獨立分量的信號分析法分析儀器內(nèi)部電磁干擾信號,將失效模型按信號特征和失效程度分類,并提取關(guān)鍵參數(shù)形成失效模型的參數(shù)數(shù)據(jù)庫;對所建立的失效模型參數(shù)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行動態(tài)的反饋調(diào)整,持續(xù)改進(jìn)電磁干擾的失效診斷方法。該方法專注于檢測儀器內(nèi)部干擾,同時提高了在信號的低頻和高頻區(qū)域診斷的實時性和精確性。
聲明:
“儀器內(nèi)部電磁干擾失效診斷方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)