本發(fā)明公開了一種預報集成電路負偏壓不穩(wěn)定性失效的測試電路。主要包括測量管(3),恒流偏置電路,電壓參考電路,滯回比較器電路,雙向開關(guān)電路,開關(guān)管(12)。該測量管(3)用于測量閾值電壓漂移,該恒流偏置電路給測量管(3)提供恒流偏置,該電壓參考電路給滯回比較器提供參考電壓,雙向開關(guān)電路使測量管(3)在退化與測試之間進行切換。退化期間,該開關(guān)管(12)關(guān)閉滯回比較器、恒流偏置電路和電壓參考電路,以減小功耗;測試時,開關(guān)管(12)開啟滯回比較器、恒流偏置電路和電壓參考電路,當測量管源漏電壓大于參考電壓,滯回比較器輸出高電平,預示著集成電路即將失效。本發(fā)明可用于對負偏壓不穩(wěn)定性效應失效的預報。
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