本發(fā)明提供一種芯片指令高速緩存失效的檢測(cè)方法，所述方法為：1、在芯片指令高速緩存中預(yù)設(shè)復(fù)數(shù)個(gè)最小指令單元，2、根據(jù)宏函數(shù)的遞歸性，逐級(jí)創(chuàng)建宏函數(shù)單元，各級(jí)宏函數(shù)單元包裹有最小指令單元，且每一級(jí)宏單元不斷的包裹前一級(jí)宏單元構(gòu)成了一大函數(shù)，3、CPU內(nèi)的邏輯運(yùn)算單元ALU從高速緩存中獲取大函數(shù)中所有的最小指令單元的指令進(jìn)行執(zhí)行，邏輯運(yùn)算單元ALU訪問高速緩存的每個(gè)比特，大函數(shù)中的指令會(huì)依次執(zhí)行，大函數(shù)執(zhí)行完成，則整個(gè)芯片指令高速緩存進(jìn)行了遍歷；4、根據(jù)大函數(shù)是否完成即能判斷芯片指令高速緩存是否失效或者異常。本發(fā)明還提供了一種芯片指令高速緩存失效的檢測(cè)系統(tǒng)，本發(fā)明提高檢測(cè)效率，加快芯片檢測(cè)的流通環(huán)節(jié)，省時(shí)省力。