一種芯片中靜態(tài)電流失效器件的檢測(cè)方法和裝置，所述方法包括：判定所述芯片中是否存在靜態(tài)電流失效器件；當(dāng)所述芯片中存在靜態(tài)電流失效器件時(shí)，檢測(cè)所述芯片中的熱點(diǎn)位置；當(dāng)所述熱點(diǎn)有至少兩個(gè)時(shí)，根據(jù)所述熱點(diǎn)在電路版圖文件中的位置信息，選取所述熱點(diǎn)的共同電路路徑；將所述共同電路路徑的版圖轉(zhuǎn)換為對(duì)應(yīng)的電路圖，并將所述熱點(diǎn)位置標(biāo)識(shí)于所述電路圖的對(duì)應(yīng)位置；檢測(cè)所述熱點(diǎn)在所述電路圖中的共通器件；在所述電路版圖中標(biāo)識(shí)所述共通器件的位置作為所述靜態(tài)電流失效器件的位置。通過(guò)所述方法和裝置，能夠在版圖的相應(yīng)處快速準(zhǔn)確地找到失效點(diǎn)，從而提高檢測(cè)的準(zhǔn)確性，以及節(jié)省檢測(cè)時(shí)間。