本發(fā)明公開(kāi)了可控硅失效檢測(cè)報(bào)警裝置,包括控制電路以及與控制電路電性連接的檢測(cè)電路、常閉開(kāi)關(guān)電路;檢測(cè)電路,用于采樣電路中的電流值并傳輸控制電路;控制電路,用于接收處理檢測(cè)電路傳輸?shù)碾娏髦担@取預(yù)設(shè)時(shí)間內(nèi)電流值對(duì)應(yīng)的波形狀態(tài),根據(jù)波形狀態(tài)確認(rèn)可控硅為被擊穿的失效狀態(tài)時(shí)向常閉開(kāi)關(guān)電路發(fā)送控制信號(hào);常閉開(kāi)關(guān)電路,用于在接收到控制電路的控制信號(hào)后,控制常閉開(kāi)關(guān)電路斷開(kāi),切斷電路電流。本發(fā)明有效的保護(hù)電路的安全,防止可控硅短路過(guò)流帶來(lái)的負(fù)面影響,提高人員的工作效率,降低事故發(fā)生的風(fēng)險(xiǎn)等級(jí)。
聲明:
“可控硅失效檢測(cè)報(bào)警裝置、系統(tǒng)以及測(cè)驗(yàn)方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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