本發(fā)明公開了一種評估系統(tǒng)單粒子功能失效率的傳播分析方法,所述方法通過對電路系統(tǒng)進(jìn)行模塊劃分、從單粒子軟錯誤傳播的角度,分析單粒子軟錯誤從產(chǎn)生到傳播至輸出端的概率,最終獲得系統(tǒng)的單粒子功能失效率。本發(fā)明方法不需要進(jìn)行重離子試驗(yàn)就可以成功的預(yù)測用于太空環(huán)境中的電路系統(tǒng)的單粒子功能失效率,為太空環(huán)境中設(shè)備的選用提供了良好的判斷依據(jù),避免出現(xiàn)設(shè)備在地面使用良好,而一旦到達(dá)太空環(huán)境就發(fā)生嚴(yán)重的單粒子功能失效現(xiàn)象出現(xiàn),并且分析結(jié)果可以作為對系統(tǒng)和模塊做抗輻射加固的依據(jù)。
聲明:
“評估系統(tǒng)單粒子功能失效率的傳播分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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