本發(fā)明提供一種共享字線的分柵式閃存的失效分析方法及系統(tǒng),不僅關(guān)注失效存儲位單元本身,還將與失效存儲位單元共享字線的同行同列存儲位單元的影響、失效存儲位單元所在字線(行)、位線(列和IO接口電路)以及控制柵極線的影響等考慮在內(nèi),根據(jù)失效存儲位單元的功能驗(yàn)證及其相鄰存儲位單元的電流信息前后比對,確定出失效存儲位單元的失效模式是自身缺陷引起的功能失效,還是與其共享字線的同行同列存儲位單元和其所在的字線、位線以及IO接口電路等周圍環(huán)境缺陷引起的失效,并給出其具體失效模式,整個分析過程可自動完成,無需專業(yè)人員在場,能節(jié)約人力資源與測試機(jī)時及提高失效分析效率和結(jié)論準(zhǔn)確性。
聲明:
“共享字線的分柵式閃存的失效分析方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)