本發(fā)明提供一種利用光標(biāo)定硅納米線傳感器的方法,包括:對(duì)所述硅納米線傳感器進(jìn)行表面修飾;獲取預(yù)定測(cè)試環(huán)境下已修飾硅納米線傳感器在不同光照強(qiáng)度下的光響應(yīng)電流;基于所述光響應(yīng)電流確定光響應(yīng)函數(shù)表達(dá)式的光響應(yīng)函數(shù)解析式;根據(jù)所述光響應(yīng)函數(shù)解析式和環(huán)境變量偏置值,確定目標(biāo)物響應(yīng)函數(shù)表達(dá)式的目標(biāo)物響應(yīng)函數(shù)解析式;基于所述目標(biāo)物響應(yīng)函數(shù)解析式,確定待測(cè)樣品的響應(yīng)電流所對(duì)應(yīng)的待測(cè)樣品濃度。該方法利用硅納米線對(duì)光的吸收效率來(lái)評(píng)估硅納米線傳感器的性能,解決由于傳感單元差異引起的傳感器件響應(yīng)效率不一致問(wèn)題。該標(biāo)定方法具有簡(jiǎn)單、高效、成本低、器件無(wú)損和不干擾后續(xù)器件使用的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“利用光標(biāo)定硅納米線傳感器的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)