本發(fā)明提供一種基于太赫茲光譜技術(shù)的熱障涂層微孔隙結(jié)構(gòu)特征表征方法,包括:獲取具有不同微孔隙結(jié)構(gòu)特征的熱障涂層試樣的樣本集;利用反射式太赫茲時(shí)域光譜系統(tǒng)對(duì)熱障涂層試樣的樣本集進(jìn)行太赫茲特征提??;對(duì)熱障涂層試樣分別進(jìn)行微孔隙結(jié)構(gòu)特征提取;建立支持向量機(jī)模型,并采用上述特征對(duì)支持向量機(jī)模型進(jìn)行訓(xùn)練,通過支持向量機(jī)模型實(shí)現(xiàn)熱障涂層微孔隙結(jié)構(gòu)特征的表征。本發(fā)明采用太赫茲波對(duì)熱障涂層進(jìn)行太赫茲特征提取,易于在線、非接觸、無(wú)損傷、非電離、可定量地檢測(cè)被測(cè)試樣的信號(hào),方法簡(jiǎn)便可行;本發(fā)明采用支持向量機(jī)模型,對(duì)于小樣本數(shù)據(jù)具有很好的回歸能力和泛化能力,且能避免陷入過擬合,適用于各種實(shí)際應(yīng)用。
聲明:
“基于太赫茲光譜技術(shù)的熱障涂層微孔隙結(jié)構(gòu)特征表征方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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