本發(fā)明公開了一種遠場光學超分辨顯微方法,具體涉及對樣品表面微小結(jié)構(gòu)的光學超分辨顯微方法。本發(fā)明通過激光干涉測振儀測量不同微小樣品的振動模態(tài),利用樣品表面微小結(jié)構(gòu)的本征振動頻率差異,再配合亞納米二維位移掃描平移臺,繪制出高分辨的空間位置、激勵頻率的振動譜和像圖,從而實現(xiàn)超分辨顯微成像。由于該發(fā)明是利用樣品表面的微小結(jié)構(gòu)的振動頻率差異來標識,而且微小結(jié)構(gòu)的振動是采用激光激勵和激光檢測,因此該方法具有對樣品無標記、無損傷、無污染的特征。
聲明:
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