本發(fā)明公開了一種表征二維材料缺陷的方法及其應(yīng)用,涉及
納米材料缺陷表征技術(shù)領(lǐng)域。表征缺陷的方法包括:分別獨立地對無缺陷的二維材料襯底樣品和待測二維材料襯底樣品進(jìn)行熒光壽命成像,根據(jù)熒光壽命的變化判斷有無缺陷:如果待測二維材料襯底樣品的熒光壽命高于無缺陷的二維材料襯底樣品的熒光壽命,則待測二維材料襯底樣品為有缺陷樣品;如果待測二維材料襯底樣品的熒光壽命與無缺陷的二維材料襯底樣品的熒光壽命相比無明顯變化,則待測二維材料襯底樣品為無缺陷樣品。本發(fā)明采用熒光壽命成像方法表征二維材料缺陷,該方法能夠快速、直觀地觀察熒光壽命變化,從而判斷材料有無缺陷,在室溫下即可表征,不會引入新的缺陷,是一種無損檢測方法。
聲明:
“表征二維材料缺陷的方法及其應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)