本申請公開了一種基于超分辨率超聲圖像的缺陷量化方法、設備及介質,所述方法包括步驟:對被測對象的所有超聲回波信號構成的全矩陣采集數(shù)據(jù)進行時域預處理,提取被測對象中擴展目標的相關散射信號,所述擴展目標為被測對象中具有一定長度和角度的直線形缺陷;根據(jù)所述擴展目標的相關散射信號進行超分辨率成像,獲取擴展目標的超分辨率超聲圖像;對所述超分辨率超聲圖像進行圖像特征分析和擴展目標參數(shù)評估,獲取擴展目標的長度和角度。本申請通過分析超分辨率超聲圖像,準確評估具有一定尺寸和角度的擴展目標的長度和角度,實現(xiàn)擴展目標的量化評估,從而準確掌握上述擴展目標的相關參數(shù),實現(xiàn)超聲無損檢測時對缺陷進行更全面的檢測和評估。
聲明:
“基于超分辨率超聲圖像的缺陷量化方法、設備及介質” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)