一種IGBT器件低頻噪聲可靠性評(píng)價(jià)方法，涉及IGBT功率器件可靠性分析領(lǐng)域，解決現(xiàn)有IGBT器件的可靠性研究方法均為有損和破壞性檢測(cè)。在檢測(cè)過程中，IGBT器件會(huì)瞬間發(fā)生損壞或隨著時(shí)間的增加，IGBT器件的重要電學(xué)參數(shù)發(fā)生變化，造成被測(cè)IGBT器件無法正常工作，且不能對(duì)IGBT器件的隱性故障時(shí)行評(píng)價(jià)等問題，本發(fā)明提出了IGBT低頻噪聲可靠性評(píng)價(jià)方法。預(yù)測(cè)和評(píng)系統(tǒng)中IGBT的狀態(tài)和實(shí)際可達(dá)到的可靠性，確保電能轉(zhuǎn)換系統(tǒng)以及整個(gè)系統(tǒng)的安全運(yùn)行。相對(duì)于現(xiàn)在的IGBT可靠性評(píng)價(jià)方法，符合隱性故障預(yù)測(cè)，無損分析，準(zhǔn)確可靠的要求。能夠客觀實(shí)現(xiàn)IGBT器件可靠性無損準(zhǔn)確評(píng)價(jià)，反應(yīng)IGBT器件的實(shí)際低頻噪聲情況，具有方法科學(xué)、適用，評(píng)價(jià)準(zhǔn)確、快捷等優(yōu)點(diǎn)。