本發(fā)明提供的是一種微結(jié)構(gòu)光纖高分辨率三維折射率測試方法。其特征是:它包括基于F?P腔的數(shù)字全息圖記錄、數(shù)值重建、解包裹、誤差處理、三維相位分布重建和三維折射率轉(zhuǎn)換。本發(fā)明主要提供一種微結(jié)構(gòu)光纖高分辨率三維折射率測試方法,相比傳統(tǒng)的顯微成像方法,具有更高的靈敏度。本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡單、靈敏度高、測量精確的優(yōu)點。本發(fā)明可用于微結(jié)構(gòu)光纖的高分辨率三維顯微成像,可廣泛應(yīng)用于光學(xué)透明物體的無損、無標記、非接觸式的三維層析成像等。
聲明:
“微結(jié)構(gòu)光纖高分辨率三維折射率測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)