本說(shuō)明書涉及一種直流電場(chǎng)作用下巖石孔隙結(jié)構(gòu)測(cè)試方法及系統(tǒng),所述方法應(yīng)用于測(cè)試系統(tǒng),該系統(tǒng)包括孔隙結(jié)構(gòu)測(cè)試裝置、標(biāo)定裝置及
電化學(xué)儲(chǔ)層流體特征模擬裝置。利用標(biāo)定裝置對(duì)目標(biāo)巖石樣品進(jìn)行測(cè)試區(qū)域標(biāo)定處理,得到包含至少一個(gè)標(biāo)定區(qū)域的目標(biāo)巖石樣品。利用測(cè)試裝置對(duì)目標(biāo)巖石樣品的標(biāo)定區(qū)域進(jìn)行測(cè)試,得到第一測(cè)試結(jié)果。將目標(biāo)巖石樣品置于模擬裝置中的導(dǎo)電流體內(nèi),對(duì)導(dǎo)電流體施加直流電場(chǎng),得到直流電場(chǎng)作用后的目標(biāo)巖石樣品;利用測(cè)試裝置對(duì)直流電場(chǎng)作用后的目標(biāo)巖石樣品的標(biāo)定區(qū)域進(jìn)行測(cè)試,得到第二測(cè)試結(jié)果;比對(duì)相同標(biāo)定區(qū)域所對(duì)應(yīng)的第一測(cè)試結(jié)果及第二測(cè)試結(jié)果,可以更加準(zhǔn)確無(wú)損地測(cè)試得到儲(chǔ)層孔隙結(jié)構(gòu)在施加直流電場(chǎng)前后的變化特征。
聲明:
“直流電場(chǎng)作用下的巖石孔隙結(jié)構(gòu)測(cè)試方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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