本發(fā)明提供了一種基于超聲層析成像的應(yīng)力場測量方法,屬于超聲波無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。該方法包括步驟:標(biāo)定試驗;確定投影系數(shù)矩陣;零應(yīng)力基準(zhǔn)采集,依次激發(fā)超聲換能器陣列中的每個超聲換能器,獲得零波形數(shù)據(jù)集;測量數(shù)據(jù)采集,按照零應(yīng)力基準(zhǔn)采集的激發(fā)順序依次激發(fā)超聲換能器陣列中的每個超聲換能器,獲得測試波形數(shù)據(jù)集;延時計算,使用互相關(guān)算法求解得到對應(yīng)的應(yīng)力時延向量;求解應(yīng)力場方程,使用層析成像算法求解應(yīng)力場方程得到應(yīng)力向量;根據(jù)應(yīng)力向量繪制應(yīng)力場圖像。本發(fā)明基于超聲層析算法,通過構(gòu)建探頭掃描矩陣,實現(xiàn)了無需移動探頭,單次測量即可得到工件淺表面應(yīng)力場分布,降低了對操作人員的要求,提高了測量效率。
聲明:
“基于超聲層析成像的應(yīng)力場測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)