本發(fā)明涉及一種超聲顯微鏡分辨力測(cè)試及校準(zhǔn)方法，適用于超聲無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域，可用于驗(yàn)證超聲檢測(cè)系統(tǒng)的橫向和縱向缺陷檢測(cè)能力，通過(guò)對(duì)超聲顯微鏡檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行校準(zhǔn)使檢測(cè)更為準(zhǔn)確。本方法通過(guò)激光微納技術(shù)在光學(xué)玻璃片上表面刻蝕了一系列微米級(jí)小孔，超聲顯微成像所能辨別的最少微孔尺寸即為橫向檢測(cè)分辨力，通過(guò)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)量塊縱截面進(jìn)行超聲顯微測(cè)量計(jì)算像素補(bǔ)償值實(shí)現(xiàn)橫向校準(zhǔn)。設(shè)計(jì)玻璃楔塊試樣，利用聲時(shí)法進(jìn)行厚度測(cè)量，所能測(cè)量的最薄水層厚度值即為縱向檢測(cè)分辨力，將測(cè)量值與理論計(jì)算值進(jìn)行分析求得線性擬合方程實(shí)現(xiàn)縱向校準(zhǔn)。該方法操作簡(jiǎn)單，易于實(shí)現(xiàn)，解決了超聲缺陷檢測(cè)能力的客觀評(píng)估問(wèn)題，使超聲顯微鏡的檢測(cè)結(jié)果更準(zhǔn)確可靠。