一種基于聲壓反射系數(shù)功率譜測(cè)量薄層聲阻抗和聲衰減的方法,屬于材料超聲無(wú)損檢測(cè)與評(píng)價(jià)技術(shù)領(lǐng)域。該方法使用脈沖超聲水浸回波系統(tǒng),采集來(lái)自水與薄層上表面以及水與薄層下表面的界面反射回波組成的混疊信號(hào),再采集一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試塊的上表面回波信號(hào),對(duì)兩個(gè)信號(hào)分別進(jìn)行FFT,通過(guò)進(jìn)一步處理得到聲壓反射系數(shù)功率譜。然后對(duì)功率譜進(jìn)行低通濾波和帶通濾波,求出功率譜表達(dá)式中的相關(guān)系數(shù),并將這些系數(shù)代入方程求得薄層的聲阻抗和聲衰減。本方法可以在不知道薄層任何參數(shù)的情況下同時(shí)求得其聲阻抗和聲衰減,克服了現(xiàn)有技術(shù)需要已知薄層的部分參量才能得到其他參量的不足。
聲明:
“基于聲壓反射系數(shù)功率譜測(cè)量薄層聲阻抗和聲衰減的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)