本發(fā)明公開了一種電子紙模組,包括TFT模組,所述TFT模組的中部設(shè)有顯示區(qū)域,所述TFT模組上設(shè)有一圈金屬環(huán)繞線,所述金屬環(huán)繞線靠近TFT模組的邊緣布線,且所述金屬環(huán)繞線的兩端接近但保持間距。通過修改TFT模組的結(jié)構(gòu)設(shè)計,在TFT模組的崩邊規(guī)格參數(shù)范圍內(nèi),于TFT的邊緣靠內(nèi)走一圈金屬環(huán)繞線。后續(xù)在大板上將一個個設(shè)有金屬環(huán)繞線的小片TFT切割下來后,將各TFT模組的金屬環(huán)繞線與測試電路連接,如果測得電路可以導通說明金屬環(huán)繞線無損傷,也即證明該片TFT模組沒有崩邊或暗裂質(zhì)量問題,反之則證明檢測產(chǎn)品不合格。
聲明:
“電子紙模組及檢測其崩邊暗裂的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)