本申請(qǐng)實(shí)施例涉及密封性測(cè)試領(lǐng)域,尤其涉及一種漏點(diǎn)檢測(cè)裝置。將密封件抵設(shè)于電子產(chǎn)品的表面并覆蓋電子產(chǎn)品的第一透氣孔,密封件的開口與電子產(chǎn)品的第二透氣孔連通,采用固定部件將密封件固定在電子產(chǎn)品上,實(shí)現(xiàn)第一透氣孔的完全密封與第二透氣孔的外周密封。在檢測(cè)漏點(diǎn)時(shí),將已密封的電子產(chǎn)品浸沒在容器的液體中,氣源氣體持續(xù)經(jīng)過固定部件的氣流通道、密封件的開口后由第二透氣孔壓入電子產(chǎn)品內(nèi)部,使得電子產(chǎn)品內(nèi)部的氣壓一直高于液體的壓強(qiáng),電子產(chǎn)品的漏點(diǎn)會(huì)持續(xù)冒氣泡,而且液體不會(huì)進(jìn)入電子產(chǎn)品內(nèi),實(shí)現(xiàn)無損的漏點(diǎn)檢測(cè),并且可以持續(xù)觀測(cè)漏點(diǎn)。
聲明:
“漏點(diǎn)檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)